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產品型號:NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
廠商性質:經銷商
所在地:深圳市
更新時間:2024-11-12
產品簡介:
品牌 | Ophir | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀(NanoScan 2s Ge/3.5/1.8)
通過其鍺探測器,精確捕獲和分析700nm - 1800nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的孔徑尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對IR和NIR激光進行全面分析。
產品特點:
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率級范圍為~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan標準或專業(yè)軟件
產品選型:
PH00459
NS2s-Ge/3.5/1.8-STD
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:鍺探測器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫
PH00467
NS2s-Ge/3.5/1.8-PRO
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:鍺探測器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫
產品規(guī)格:
產品名稱:NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
傳感器類型:Germanium Photodetector
光譜范圍:700 to 1800 nm
狹縫尺寸:1.8 µm
孔徑尺寸:3.5 mm
光束尺寸:7 µm to 2.3 mm
掃描頭尺寸:83 mm
功率范圍:10 nW to 10 W
通信:USB 2.0
兼容的光源CW, Pulsed >25 kHz
700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀(NanoScan 2s Ge/3.5/1.8)
掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術,通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過單點光電探測器測量強度,再通過掃描狹縫 / 小孔的位置,復原整個光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優(yōu)點 :
取樣尺度可以到微米量級,遠小于 CCD 像素,可獲得較高的空間分辨率而無需放大;
采用單點探測器,適應紫外 ~ 中遠紅外寬范圍波段;
單點探測器具備很高的動態(tài)范圍,一個探頭可同時適應弱光和強光分析。
掃描式光束分析儀的缺點 :
多次掃描重構光束分布,不適合輸出不穩(wěn)定的激光;
不適合非典型分布的激光,近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系;在很多應用,如小光斑測量(焦點測量)、紅外高分辨率光束分析等方面,掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。